亞納米分辨率和測量度下有高精度
適合所有光學(xué)和反射表面、精細技術(shù)表面和電路板、半導(dǎo)體產(chǎn)品和生物組織表面
2D 表面分析和測量評估
地形學(xué) 3D 表面分析和測量評估
快速測量 #96 短測量時間
在 4 個軸上手動定位工作臺和物體
多種鏡頭選擇，可根據(jù)測量對象進行調(diào)整
采用花崗石底座的穩(wěn)固型設(shè)計
基于 MountainsMap© 的評估軟件
測量原則
使用干涉儀，白光干涉儀
光源 (WLI)：高功率 LED，505 nm
測量范圍 mm
傳感器裝置在 Z 方向可手動移動 200 mm
載物臺在 X 和 Y 方向可手動移動
干涉儀，白光干涉儀：
測量范圍(WLI)：高 100 µm（垂直）
接口 230 V, 50 Hz
機器建造
所有類型純金屬表面（打磨，軋制等），以及激光結(jié)構(gòu)表面、細陶瓷和塑料表面、鑄模表面
醫(yī)療
植入體、假肢和儀器的金屬、陶瓷和塑料表面
電子
涂層表面分析，電子和半導(dǎo)體組件的測量和分析
光學(xué)
各種光學(xué)組件（所有材料）的粗糙度分析
CT 120 雙軸傾斜工作臺
設(shè)置工作臺角 +/- 30°
標準套件
白光干涉儀：
WLI 物鏡 2.5x0.075； 5x0.13； 10x0.3； 20x0.4； 50x0.55； 100x0.7
可選：
配備減震器來為納米和亞納米范圍測量優(yōu)化減震
傳感器系統(tǒng)，包含：
WLI 傳感頭
相機，768 x 582 像素，高 48 圖像/秒
100 µm Z 軸，帶壓電驅(qū)動
WLI 軟件模塊，"Inspector" 軟件
花崗石底座和立柱，配有手動定位傳感器系統(tǒng)
手動 XY 載物臺用于測頭定位
20x0.4 DI 鏡頭（白光干涉儀）
干涉儀一直被用于測量表面形狀的高精度工具，或者用于量塊校準。馬爾提供菲索干涉儀和白光干涉儀，其中白光干涉儀可以達到0.1納米的超高分辨率，用來測量超高精度3D表面粗糙度。
東莞市高騰達精密工具有限公司-代理
CHevalIER 臺灣福裕 精密平面磨床 CNC磨床
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瑞士DAMA磨刀機MM-12
日本TECLOCK Smart Sensor Dial Indicator Caliper Gauge
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德國Mahr MarSurf CM mobile
日本AMADA車銑復(fù)合加工機
日本三井MITSUI平面磨床丨磨床
日本KIRA吉良機床KPC-30b丨PCV-30
日本Kondo圓磨CKG系列 丨ASZ系列 丨UGK系列丨CTW系列
李先生
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